评估时间：2024-05-11 21:47:22 |
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| 标题： | Semimap COREMA Contactless Resistivity Mapping for GaAs and SiC |
| 简介： | * Semimap Scientific Instruments GmbH develops measurement systems for to evaluate electrical properties of semi-insulating compound semiconductor substrates. COREMA-WT, COREMA-RM and CORMA-VT characterize substrate properties with respect to resistivity, mobility and carrier concentration for GaAs, InP, SiC, GaN and CdTe |
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| 托管地址： | Germany Berlin |
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